马尔文帕纳科MicroCalPEAQ

时间:2021年04月20日 21:22:20

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马尔文帕纳科2830 ZT 晶圆分析仪 2830ZT波长色散X射线荧光(WDXRF)圆晶分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。2830ZT圆晶分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达300mm)测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。https://m.chem17.com/st302686/search.html 搜索历史